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PVEL的湿热(DH)测试模拟了典型的高温高湿环境下湿气的长期渗透对组件电池及封装材料的性能影响，当低质量的组件或不合格的层压工艺导致封装材料失效时，湿气会渗入组件并腐蚀内部材料，可能导致产品性能失效和使用安全问题
